Назначение разработки: Прибор для определения качества оптических полупроводниковых материалов путем измерения распределения примесей в них после выращивания монокристалла. Разработаны методы контроля кристаллов, прозрачных в ИК-диапазоне с использованием: - Поляризационного эффекта (патенты Украины на полезные модели № 37067 и № 39789); - Тепловизионного контроля (патент Украины на полезную модель № 16797 / 1); - Эффекта рассеивания на структурных дефектах. Разработанные методы имеют экспрессность, которая дает возможность использовать их в производственных условиях.

Рекомендуемая область применения: Материаловедение, дефектоскопия, ИК-приборостроение.

Техническая характеристика: Спектральный диапазон измерения оптического пропускания: 4-16 мкм Точность измерения: 0,3% Время сканирования одной точки: 50 сек. Связь с компьютером: USB Методы контроля проходят апробацию на предприятии ОАО «Технокристалл».

Стадия готовности разработки: Опробовано в режиме опытной эксплуатации

Возможность передачи за рубеж:
Продажа патентов

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua