Назначение разработки: Разработка предназначена для решения проблем количественного определения важнейших характеристик магнитомягких материалов электронной техники.

Рекомендуемая область применения: Научно-исследовательские и научно-производственные предприятия.

Преимущества перед аналогами: В отличие от аналогов метод позволяет реализовать неразрушающий метод контроля параметров магнитных структур размером до - 100 мм. По сравнению с методом торсионного анизометра метод имеет существенно более высокую чувствительность. Оборудование для его реализации является более простым и имеет низкую стоимость, чем для реализации метода вибромагнитометрa с аналогичной чувствительностью.

Стадия готовности разработки: Опробовано в режиме опытной эксплуатации

Технико-экономический эффект: Метод позволяет одновременно определять как магнитный момент образца (намагниченность насыщения образца известного объема), так и эффективные поля магнитной анизотропии на образцах с толщиной от нескольких атомных слоев.

Описание разработки:
()
Разработан новый метод определения магнитного момента и параметров магнитной анизотропии магнитомягких слоев, который предназначен для измерения характеристик образцов с малым магнитным моментом и слабой анизотропией и может быть использован для неразрушающего экспресс-контроля параметров магнитных слоев и структур в условиях их производства. Он может быть реализован как в независимом комплексе измерительного оборудования, а также как модификация метода вибромагнитометрa с вибрирующим образцом (VSM).

Возможность передачи за рубеж:
Продажа патентов
Продажа лицензий
Совместное доведение до промыш. уровня
Реализация готовой продукции

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua