Назначение разработки: Прибор предназначен для исследования физико-механических свойств поверхностного слоя материалов методами наноиндентирования, склерометрии, топографии и металлографии.

Рекомендуемая область применения: Методы наноиндентирования используются в научных лабораториях при проведении исследований физико-механических свойств поверхности и сверхтонких приповерхностных слоев материалов. Они получили широкое распространение в машиностроительной и металлургической промышленности, а также в таких областях как микроэлектроника (свойства полупроводников, подложек), медицина (свойства протезов, зубных пломб, костной ткани), биология (характеристики растительной ткани), горюче-смазочные материалы (несущая способность масел) и другие.

Техническая характеристика: Основные технические характеристики: Сила вдавливания на индентор, H ..... 0,01 - 5 Диапазон регистрации глубины проникновения индентора, мкм ............. 0,01 - 200 Скорость погрузки, cH / с ...... 0.01 - 100 Выдержка при максимальной силе, мин .. 0 - 10 Диапазон сканирования, мм .................. 30х30 Скорость сканирования, мкм / с ........... 20 - 60.

Преимущества перед аналогами: Индентометр "Микрон-гамма" Новизна и основные преимущества: - Многофункциональность; - Работа в реальном масштабе времени; - Дифференциальный измеритель глубины проникновения индентора относительно поверхности образца. - Бесконтактный электромагнитный погрузчик; - Компактность.

Стадия готовности разработки: Готово к внедрению

Технико-экономический эффект: Перспективы: реализация метода акустической эмиссии для наноиндентирования. Метод позволит изучать процессы, обусловленные движением дислокаций (скольжения, двойникования) и возникновением микротрещин.

Описание разработки:
()
Метод локального индентирования базируется на автоматической регистрации нагрузки на индентор и глубины его проникновения. Результаты представляются в виде диаграмм вдавливания, обработка которых позволяет определить микротвердость и модуль упругости материалов, изучать особенности их микродеформирования за кинетикой углубления индентора, регистрировать микроползучесть материалов. Метод склерометрии. Основывается на непрерывной регистрации сил сопротивления движению втискиванием в поверхность индентора. Определяются характеристики сопротивления локальных микрообъемов контактному деформированию при царапании, выполняется комплексное оценивание сопротивления поверхностного слоя по трассе сканирования. Определяется средняя прочность по трассе сканирования, оценивается неоднородность свойств прочности, моделируются элементарные акты процессов трения и износа. Метод топографии. Основывается на сканировании поверхности индентором при минимальной нагрузке с последующей обработкой профилограмм. Регистрируются в наномасштабе параметры шероховатости поверхности, строится трехмерный профиль поверхности. Метод металлографии. Основан на регистрации изображения оптическим микроскопом с цифровой видеокамерой и последующей автоматизированной обработкой изображения. Выполняются количественный анализ изображения, анализ структуры, пористости, фазовый анализ, анализ неметаллических включений, регистрируются процессы микроразрушения, строится трехмерная модель профиля поверхности.

Результаты испытаний
Готово к внедрению

Возможность передачи за рубеж:
Продажа патентов
Продажа технической документации
Совместное доведение до промыш. уровня

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua