Назначение разработки: Микроскоп предназначен для неразрушающего контроля качества микросварных соединений в кремниевых микросхемах.

Рекомендуемая область применения: Применение: - неразрушающий контроль качества микросварных соединений; - качество механического контакта.

Техническая характеристика: Основные технические характеристики: Поле сканирования от 50х50 мкм до 500х500 мкм Диапазон частот модуляции 150 - 1500 Гц Разрешение 5 - 7 мкм Время сканирования полного поля 100 - 500 с

Стадия готовности разработки: Готово к внедрению

Технико-экономический эффект: Внедрение: микроскоп создан по заказу НПО "Микроприбор".

Описание разработки:
()
Состав ФА-микроскопа: 1 - лазер непрерывного излучения, 2 - модулятор, 3 - сканер, 4 - объектив, 5 - образец, 6 - пьезокерамика, 7 - усилитель; 8 - компьютер.

Результаты испытаний
Готово к внедрению

Возможность передачи за рубеж:
Продажа патентов
Продажа лицензий
Продажа технической документации
Создание совместного предприятия

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua