Назначение разработки: Неразрушающий метод контроля качества материалов в нанообъемах.

Рекомендуемая область применения: Нанотехнологии.

Техническая характеристика: Расчет величины твердости осуществляется по глубине вдавливания индентора и учитываются как упругая, так и пластическая составляющие деформации.

Преимущества перед аналогами: При определении нанотвердости по разработанному методу исключается необходимость сложного и недостаточно объективного расчета упругого прогиба, поскольку в качестве основного параметра используется глубина вдавливания индентора, которая измеряется прибором.

Стадия готовности разработки: Внедрено в производство

Технико-экономический эффект: Повышение точности измерений и снижение трудоемкости обработки результатов определения нанотвердости.

Описание разработки:
()
Разработанный метод позволяет рассчитывать нанотвердость по глубине вдавливания индентора, который измеряется прибором, для любых материалов во всем интервале нагрузок индентора Берковича. Имеет более высокую точность и значительно гораздо более низкую трудоемкость, чем метод Оливера и Фарра.

Сведения о новизне разработки:
имеется патентов Украины -- 3 шт.

Результаты испытаний
Готово к внедрению

Возможность передачи за рубеж:
Совместное доведение до промыш. уровня

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua