Назначение разработки: Создание экспериментального комплекса предназначено для исследования физико-механических свойств поверхностных слоев и пленочных материалов.

Рекомендуемая область применения: Предприятия материаловедения.

Техническая характеристика: Параметры сканирования: 200 строк Х 200 элементов на строку. Время сканирования: 10 минут. Минимальные размеры сканирования: 0,1 мкм Х 0,1 мкм. Максимальные размеры сканирования: 5 мкм Х 5 мкм. Максимальная глубина индентирования: 1,2 мкм. Диапазон измерения усилия индентирования: 0,01-1.0 Н.

Преимущества перед аналогами: Применение туннельной микроскопии позволяет расширить возможности стандартной микротвердометрии за счет уменьшения размеров и глубины отпечатка индентора.

Стадия готовности разработки: Опробовано в режиме опытной эксплуатации

Описание разработки:
()
При изучении твердости, материальных констант, текстуры материалов и т.д. средствами индетування необходимо уменьшать глубину отпечатка при точном контроле его характеристик и стадий вдавливания индентора. Как индентор и зонд сканирующего туннельного микроскопа применены пирамидальный стержень, изготовленный из легированного ведущего искусственного алмаза. Стандартный метод непрерывного вдавливания индентора. Разработана конструкция сканирующего зондового микроскопа-наноидентора, электронный блок, программное обеспечение к нему и методику его использования.

Результаты испытаний
Отвечает технической характеристике

Возможность передачи за рубеж:
Реализация готовой продукции

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua