Рекомендуемая область применения: Производство жидкокристаллических дисплеев, индикаторов, модуляторов и других устройств на основе ЖК оптических устройств.

Преимущества перед аналогами: Разработанное программное обеспечение обрабатывает снятые спектры отражения, и результаты выдаёт на экран монитора. Используемый алгоритм обработки спектральных данных позволяет значительно уменьшить погрешность измерения при измерении зазора по сравнению с измерениями на обычных спектрометрах. Установка не имеет ограничений на максимальный размер ЖК ячеек.

Описание разработки:
()
Создана установка для измерения параметров жидкокристаллических ячеек, разработаны методики и программное обеспечение для определения зазора незаполненных ЖК ячеек с прозрачным проводящим покрытием и слоем диэлектрика определение толщины слоя жидкого кристалла в заполненых ЖК ячейках. Установка позволяет определять значения толщин прозрачного электрода и диэлектрического слоя, используемых в ЖК устройствах, получать достоверную информацию о параметрах ЖК ячейки, необходимых при разработке как новых ЖК устройств так и при проверке уже существующих. - диапазон измерения толщины воздушного зазора 0,25-15мкм; - диапазон измерения толщины воздушного зазора с учётом толщин ITO и SIO2 0,25-8 мкм; - диапазон измерения двулучепреломления ЖК ячеек (And) 0,5-5 мкм; - диапазон измерения толщины ІТО 40-300 нм; - диапазон измерения толщины SiO2 30-500нм; - размер измеряемого образца до 500 мм; - габариты измерительного блока 325х260х120 мм. По сравнению с зарубежными аналогами разработанная установка не уступает им по основным характеристикам и превосходит по количеству измеряемых параметров. Цена установки примерно в 2 раза ниже аналогов.

Возможность передачи за рубеж:
Продажа патентов
Реализация готовой продукции

Фотоприложение

Cтрана Беларусь

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua