Назначение разработки: Предложенный метод может быть использован при определении кристаллографической ориентации и структуры поликристаллических материалов, их изменение в процессе внешнего воздействия, а также при изучении закономерностей пластической деформации кристаллических материалов.

Рекомендуемая область применения: Разработка может найти применение в заводских лабораториях, научно - исследовательских институтах и металлургической промышленности.

Преимущества перед аналогами: По сравнению с мировыми аналогами, где за ориентационными изменениями можно следить только в отдельном участке поликристалла дискретно, предложенный способ позволяет автоматически, непрерывно определять кристаллографическую ориентацию одновременно для всего образца. Разработка востребована на рынке Украины, России, Германии, США, Японии.

Стадия готовности разработки: Изготовлен опытный образец

Описание разработки:
()
Разработан принципиально новый способ определения кристаллографической ориентации различных областей образца и их изменений in situ в процессе внешнего воздействия, основанный на дифракции белого света квазипериодических структур, возникающее на поверхности поликристаллического образца в результате химического травления.

Сведения о новизне разработки:
имеется патентов Украины -- 1 шт.

Результаты испытаний
Обеспечивает получение стабильных резуль

Возможность передачи за рубеж:
Совместное доведение до промыш. уровня

Фотоприложение

Cтрана Украина

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua