РАЗРАБОТКА НОВЫХ ФИЗИЧЕСКИХ ПРИНЦИПОВ ДИАГНОСТИКИ И МОДИФИКАЦИИ ХАРАКТЕРИСТИК ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛОВ,СТРУКТУР И ПРИБОРОВ
Назначение разработки:
Выяснить механизмы процессов взаимодействия объемных и поверхностных дефектов в полупрводниковых материалах с электрическим полем.
Рекомендуемая область применения:
Применение кремниевых пластин в качестве сенсоров, преобразователей давления.
Преимущества перед аналогами:
Уменьшена нелинейность и температурная зависимость преобразования.
Стадия готовности разработки:
Проверено в лабораторных условиях
Технико-экономический эффект:
Уменьшена нелинейность и температурная зависимость преобразования.
Описание разработки:
() Предложен метод выявления присутствия декорированных дислокаций в кристаллах СdS на основе анализа формы спектра краевой люминесценции. Оптимизированы режимы анодирования и последующей обработки Si-пластин, что позволило получить образцы пористого кремния с внешним квантовым выходом ~20%.
Результаты испытаний
Обеспечивает получение стабильных резуль
Возможность передачи за рубеж:
Продажа патентов Продажа технической документации
Фотоприложение
Cтрана
Украина
За дополнительной информацией обращайтесь: E-mail: gal@uintei.kiev.ua
|