Призначення розробки: Прилад для визначення якості оптичних напівпровідникових матеріалів шляхом вимірювання розподілу домішок у них після вирощування монокристалу. Розроблено методи контролю кристалів, прозорих в ІЧ-діапазоні з використанням: - поляризаційного ефекту (патенти України на корисні моделі №37067 та №39789); - тепловізійного контролю (патент України на корисну модель №16797/1); - ефекту розсіювання на структурних дефектах. Розроблені методи мають експресність, яка дає можливість використовувати їх у виробничих умовах.

Рекомендована область застосування: Матеріалознавство, дефектоскопія, ІЧ-приладобудування.

Технічна характеристика: Спектральний діапазон вимірювання оптичного пропускання: 4-16 мкм Точність вимірювання: 0,3 % Час сканування однієї точки: 50 сек. Зв'язок з комп'ютером: USB Методи контролю проходять апробацію на підприємстві ВАТ "Технокристал".

Стадія завершеності розробки: Випробувано в режимі дослідної експлуат

Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів

Фотодоповнення

Країна Україна

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua