Призначення розробки: Розробка призначена для вирішення проблем кількісного визначення найважливіших характеристик магнітом'яких матеріалів електронної техніки.

Рекомендована область застосування: Науково-дослідні та науково-виробничі підприємства.

Переваги перед аналогами: На відміну від аналогів метод дозволяє реалізувати неруйнівний метод контролю параметрів магнітних структур розміром до - 100 мм. У порівнянні з методом торсійного анізометра метод має суттєво вищу чутливість. Обладнання для його реалізації є значно простішим і має нижчу вартість, ніж для реалізації методу вібромагнітометра з аналогічною чутливістю.

Стадія завершеності розробки: Випробувано в режимі дослідної експлуат

Техніко-економічний ефект: Метод дозволяє одночасно визначати як магнітний момент зразка (намагніченість насичення зразка відомого об'єму), так і ефективні поля магнітної анізотропії на зразках з товщиною від кількох атомних шарів.

Опис розробки:
()
Розроблено новий метод визначення магнітного моменту та параметрів магнітної анізотропії магнітом'яких шарів, який призначений для вимірювання характеристик зразків з малим магнітним моментом та слабкою анізотропією і може бути використаний для неруйнівного експрес-контролю параметрів магнітних шарів та структур в умовах їх виробництва. Він може бути реалізований як у незалежному комплексі вимірювального обладнання, а також як модифікація методу вібромагнітометра з вібруючим зразком (VSM).

Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів
Продаж ліцензій
Спільне доведення до промислового рівня
Реалізація готової продукції

Фотодоповнення

Країна Україна

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua