Призначення розробки: Професійний скануючий зондовий мікроскоп універсальний призначений для сканування зразків на атомарному рівні і дозволяє отримати повну і достовірну інформацію про їх властивості: рельєфі поверхні, поділі магнітних і електричних полів, локальній жорсткості й еластичності (включаючи кількісну оцінку модуля Юнга), в'язкості, силі тертя, адгезії та ін.

Рекомендована область застосування: Наноелектроніка. Застосовується для дослідження полімерних матеріалів (сферуліти і дендрити, полімерні монокристали, блок-співполімери, полімерні наночастинки, ЛБ-плівки, тонкі плівки).

Технічна характеристика: До складу даної моделі входять також набори зондових датчиків, тестових та калібрувальних структур спеціально розроблених для характерних застосувань конкретної комплектації. Наявність рідинної голови дозволяє проводити вимірювання в області Life Sciences. Можливо дослідження різних матеріалів з нагріванням до 130 * С.

Переваги перед аналогами: Модульний принцип конструкції забезпечує унікальну можливість конфігурувати прилад для певних застосувань і конкретних методик дослідження. Діапазон вимірювань може варіюватися від 1,3 до 15 мкм по Z, і від 3 до 150 мкм по XY. Висока роздільна здатність від молекулярного до атомарного рівня в режимах ВТМ та контактної АСМ досягається за рахунок застосування сканерів з діапазонами: 3х3х1, 3 мкм і 10х10х2 мкм.

Стадія завершеності розробки: Підготовлено до впровадження

Опис розробки:
()
Можливість сканування на атомарному рівні забезпечується низьким рівнем шумів сканера (0,25 А RMS по Z) і гранично малою величиною кроку сканування (використовується 22-х розрядний АЦП). Керуюча електроніка нового покоління дозволяє працювати в високочастотних режимах (до 5 мГц). Ця можливість є принциповою при роботі з високочастотними модами атомно-силового мікроскопа або ж при використанні високочастотних кантілевери. Вимірювальні методики: На повітрі: - СТМ - АСМ (контактна + напівконтактна + безконтактна) - Відображення фази - Модуляція сили - Відображення опору розтіканню - Відображення сил адгезії - АСМ силова літографія - АСМ струмова літографія - СТМ літографія В рідини: - АСМ (контактна + напівконтактна + безконтактна) - Відображення фази - Модуляція сили - Мікроскопія сил адгезії - АСМ літографія

Результати дослiджень
Готове до впровадження

Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів
Продаж ліцензій
Продаж техничної документації
Створення спільного підприємства
Реалізація готової продукції

Фотодоповнення

Країна Україна

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua