Призначення розробки: Прилад призначений для дослідження фізико-механічних властивостей поверхневого шару матеріалів методами наноіндентування, склерометрії, топографії та металографії.

Рекомендована область застосування: Методи наноіндентування використовуються в наукових лабораторіях при проведенні досліджень фізико-механічних властивостей поверхні та надтонких приповерхневих шарів матеріалів. Вони отримали широке розповсюдження у машинобудівній та металургійній промисловості, а також у таких галузях як мікроелектроніка (властивості напівпровідників, підкладок), медицина (властивості протезів, зубних пломб, кісткової тканини), біологія (характеристики рослинної тканини), паливо-мастильні матеріали (несуча здатність масел) тощо.

Технічна характеристика: Основні технічні характеристики: Сила вдавлювання на індентор, H…..0,01 - 5 Діапазон реєстрації глибини проникнення індентора,мкм…..........0,01 - 200 Швидкість навантажування, cH/с…...0.01 - 100 Витримка при максимальній силі, хв..0 - 10 Діапазон сканування, мм……………...30х30 Швидкість сканування, мкм/с…….….20 – 60.

Переваги перед аналогами: Індентометр “Мікрон-гама” Новизна та основні переваги – багатофункціональність; – робота у реальному масштабі часу; – диференційний вимірювач глибини проникнення індентора відносно поверхні зразку. – безконтактний електромагнітний навантажувач; – компактність.

Стадія завершеності розробки: Підготовлено до впровадження

Техніко-економічний ефект: Перспективи: реалізація методу акустичної емісії для наноіндентування. Метод дозволить вивчати процеси, що зумовлені рухом дислокацій (ковзання. двійникування) та виникненням мікротріщин.

Опис розробки:
()
Метод локального індентування базується на автоматичній реєстрації навантажування на індентор та глибини його проникнення. Результати представляються у вигляді діаграм вдавлювання, обробка яких дозволяє визначити мікротвердість та модуль пружності матеріалів, вивчати особливості їх мікродеформування за кінетикою заглиблення індентора, реєструвати мікроповзучість матеріалів. Метод склерометрії. Грунтується на безперервній реєстрації сил опору руху втиснення в поверхню індентора. Визначаються характеристики опору локальних мікрооб'ємів контактному деформуванню при дряпанні, виконується комплексне оцінювання опору поверхневого шару по трасі сканування. Визначається середня міцність по трасі сканування, оцінюється неоднорідність властивостей міцності, моделюються елементарні акти процесів тертя та зносу. Метод топографії. Грунтується на скануванні поверхні індентором за мінімального навантаження з наступним обробленням профілограм. Реєструються у наномасштабі параметри шорсткості поверхні, будується тривимірний профіль поверхні. Метод металографії. Грунтується на реєстрації зображення оптичним мікроскопом з цифровою відеокамерою та наступним автоматизованим обробленням зображення. Виконуються кількісний аналіз зображення, аналіз структури, пористості, фазовий аналіз, аналіз неметалевих вкраплень, реєструються процеси мікроруйнування, будується тривимірна модель профілю поверхні.

Результати дослiджень
Готове до впровадження

Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів
Продаж техничної документації
Спільне доведення до промислового рівня

Фотодоповнення

Країна Україна

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua