Призначення розробки: Розроблена приставка дозволяє оптичним мікроскопам працювати у режимі лазерного інтерферометра та досліджувати фазову структуру прозорих та напівпрозорих мікрооб'єктів.

Переваги перед аналогами: Дана приставка є економічною та доступною заміною спеціалізованим інтерферометричним комплексам (наприклад, лазерному мікроскопу для біомедичних досліджень МИМ-330, Москва, Росія). Вона легко інтегрується у довільні мікроскопічні установки різного призначення. Промислових аналогів у світі немає.

Стадія завершеності розробки: Провірено в лабораторних умовах

Техніко-економічний ефект: Найближчим відомим аналогом даної приставки є МИМ-330, ціна якого становить ~ 100 тис.$, а собівартість приставки в залежності від комплектації становить 3-10 тис. грн.

Опис розробки:
()
В приставці використано метод ESPI (Electronic Speckle Pattern Interferometry), близький до методів цифрової (комп'ютерної) голографії. Інформація про об'єкт подається у вигляді картин фазової кореляції та розрахованих по ним 3D профілям товщини мікрооб'єктів або змін показника заломлення з реєстрацією інформації у цифровому вигляді. Застосований у приставці ESPI метод є безконтактним та неруйнівним, та дозволяє досліджувати біологічні об'єкти у живому стані, без фіксації і фарбування. Це дозволяє отримати важливу інформацію, яку важко або неможливо отримати іншими методами, наприклад визначати ступінь сплющення еритроцитів, визначати стан клітин (живі або мертві), діагностувати апоптозний та передапоптозний стан клітин, фіксувати наявність цитоплазматичних тяжів та викидів, цілісність мембран, ступінь зрілості лімфобластів та ін. Приставка проходить тестування у державному підприємстві "НДІ медицини транспорту МОЗ України" (Одеса), по результатам іспитів подана патентна заявка на метод діагностики предапоптозного та апоптозного стану клітин.

Відомості про новизну розробки:
є патентів України -- 2 шт.

Результати дослiджень
Відповідає технічній характеристиці

Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів
Продаж ліцензій
Спільне доведення до промислового рівня

Фотодоповнення

Країна Україна

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua