Рекомендована область застосування: Виробництво рідиннокристалевих дисплеїв, індикаторів, модуляторів, та інших пристроїв на основі РК оптичних пристроїв.

Переваги перед аналогами: Розроблене програмне забеспечення обробляє зняті спектри відображення, та результати видає на екран монітора. Алгоритм обробки спектральних даних, який викоритсовується, дозволяє значно зменшити похибку вимірювання при вимірюванні зазору, в порівнянні з вимірами на звичайних спектрометрах. Устаткування не має обмежень на максимальний розмір РК чарунок.

Опис розробки:
()
Створено устаткування для вимірювання парметрів рідиннокристалевих чарунок, розроблені методики та програмне забезпечення для визначення зазору незаповнених РК чарунок з прозорим провідним покриттям та шаром діелектрика визначення товщини шару рідкого кристалу в заповнених РК чарунках. Устаткування дозволяє визначати значення товщини прозорого електроду та діелектричного шару, які використовуються в РК пристроях, отримувати достовірну інформацію про параметри РК чарунок, які необхідні при розробці як нових РК пристроїв так і при перевірці вже існуючих. - Діапазон вимірювання товщини повітряного зазору 0,25-15 мкм; - діапазон вимірювання товщини повітряного зазору з урахуванням товщини ІТО та SiO2 0,25-8 мкм; - діапазон вимірювання двопроменезаломлення РК чарунок (And) 0,5-5 мкм; - діапазон вимірювання товщини ІТО 40-300 нм; - діапазон вимірювання товщини SiO2 30-500 нм; - розмір вимірюваного зразка до 500 мм; - габарити вимірювального блоку 325х260х120 мм. В порівнянні з закордонними аналогами розроблене устаткування не поступається по основним характеристикам та перевершує по кількості вимірювальних параметрів. Ціна устаткування приблизно в 2 рази нижче аналогів.

Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів
Реалізація готової продукції

Фотодоповнення

Країна Білорусія

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua