Призначення розробки: Запропонований метод може бути використаний при визначенні кристалографічної орієнтації та структури полікристалічних матеріалів, їх змінення в процесі зовнішнього впливу, а також при вивченні закономірностей пластичної деформації кристалічних матеріалів.

Рекомендована область застосування: Розробка може знайти застосування у заводських лабораторіях, науково - дослідних інститутах і металургійній промисловості.

Переваги перед аналогами: Порівняно зі світовими аналогами, де за орієнтаційними змінами можна слідкувати тільки в окремій ділянці полікристала дискретно, запропонований спосіб дає змогу автоматично, безперервно визначати кристалографічну орієнтацію одночасно для всього зразка. Розробка затребувана на ринку України, Росії, Німеччини, США, Японії.

Стадія завершеності розробки: Виготовлено дослідний зразок

Опис розробки:
()
Розроблено принципово новий спосіб визначення кристалографічної орієнтації різних областей зразка та їх змін in situ у процесі зовнішнього впливу, який базується на дифракції білого світла на квазіперіодичній структурі, що виникає на поверхні полікристалічного зразка в результаті хімічного травлення.

Відомості про новизну розробки:
є патентів України -- 1 шт.

Результати дослiджень
Забезпечує отримання стабільних результ

Можливість передачі за кордон:
Спільне доведення до промислового рівня

Фотодоповнення

Країна Україна

Для отримання додаткової інформації звертайтесь::
E-mail: gal@uintei.kiev.ua