РОЗРОБКА НОВИХ ФІЗИЧНИХ ПРИНЦИПІВ ДІАГНОСТИКИ І МОДИФІКАЦІЇ ХАРАКТЕРИСТИК НАПІВПРОВІДНИКОВИХ МАТЕРІАЛІВ,СТРУКТУР ТА ПРИЛАДІВ
Призначення розробки:
З"ясувати механізми процесів взаємодії об'ємних та поверхневих дефектів в напівпровідникових матеріалах з електричним полем.
Рекомендована область застосування:
Застосування кремнієвих пластин в якості сенсорів, перетворювачів тиску.
Переваги перед аналогами:
Зменшено нелінійність та температурну залежність перетворювача.
Стадія завершеності розробки:
Провірено в лабораторних умовах
Техніко-економічний ефект:
Зменшено нелінійність та температурна залежність перетворення.
Опис розробки:
() Запропоновано метод виявлення присутності декорованих дислокацій в кристалах СdS на основі аналізу форми спектра краєвої люмінесценції. Оптимізовано режими анодування та наступної обробки Si-пластин, що дозволило отримати зразок пористого кремнію з зовнішнім квантовим виходом ~20%.
Результати дослiджень
Забезпечує отримання стабільних результ
Можливість передачі за кордон:
Продаж патентів Продаж техничної документації
Фотодоповнення
Країна
Україна
Для отримання додаткової інформації звертайтесь:: E-mail: gal@uintei.kiev.ua
|