Рубрика ГАСНТИ 59.45.37

Описание проекта: Разработана и технически реализована процедура разрушающей и неразрушающей микро- и нанотомографии приповерхностных слоёв материалов по глубине 100-1000 нм, предназначенная для оценки неоднородности материалов поверхностных слоёв и покрытий, обусловленной наличием различных материаловедческих компонентов и дефектов. Процедура реализована на базе сканирующего зондового микроскопа. Измерительная система допускает регулировку диапазона усилий воздействия остриём зонда на анализируемую поверхность, количества измеряемых слоёв, количество точек измерений в слое, размер анализируемой площади. Возможна реализация режимов неразрушающей и разрушающей микротомографии путём выбора материала острия зонда жёсткости консоли зонда, а также неправильного среза поверхностного слоя. Обработка данных предусматривает связывание послойных изображений топографии и фазового контраста в единое пространственное изображение и построение профильных сечений по глубине. - Толщина детектируемого поверхностного слоя - разрушающая томография до 2500 нм; - неразрушающая 100 - 1000 нм; поле анализа 20х20 мкм; латеральное разрешение 10-12нм; - вертикальное разрешение 1-2 нм. Разработанная функция неразрушающей нанотомографии не имеет зарубежных аналогов. Стоимость сканируемого зондового микроскопа, на базе которого реализована функция нанотомографии в 5-7 раз ниже зарубежных аналогичных комплексов. Комплекс не уступает по основным параметрам зарубежным аналогам сканирующих зондовых микроскопов в режиме разрушающей нанотомографии. Автоматический комплекс экологически безвреден.

Ожидаемый результат инвестиций: Автоматизированный комплекс "Микротомограф" позволяет проводить оценки неоднородности приповерхностных структур (наличие разнородных по модулю упругости фаз материалов, дефектов в виде нанопар, подповерхностных полостей и трещин).

Ожидаемый срок окупаемости проекта: 3 года

Ожидаемый взнос инвестора: 20-25 тыс.дол.США.

Ориентировочная стоимость разработки и затрат на внедрение (у.е.): 20-25 тысюдолл.

Страна
Беларусь

За дополнительной информацией обращайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua