Рубрика ГАСНТІ 59.45.37

Опис проекту: Розроблено та технічно реалізовано прцедуру руйнівної та неруйнівної мікро- та нанотомографії приповерхневих шарів матеріалів по глибині 100-1000 нм, призначено для оцінки неоднорідності матеріалів поверхневих шарів та покриття, обумовлених наявністю різноманітних матеріалознавчих компонентів та дефектів. Процедуру реалізовано на базі скануючого зондового мікроскопу. Вимірювальна система допускає регулювання діапазона зусиль дії вістряком зонду на анализовану поверхню, кількість вимірювальних шарів, кількість точок вимірювань в шарі, розмір аналізованої площі. Можлива реалізація режимів неруйнівної та руйнівної мікротомографії шляхом вибору матеріала вістря зонду твердості консолі зонду, а також непаралельного зрізу поверхневого шару. Обробка даних передбачає зв"язування пошарових відображень топографії та фазового контрасту в єдине просторове зображення та побудова профільних перерізів по глибині. - Товща детектованго поверхневого шару - руйнівна томографія до 2500 нм; - неруйнівна 100-1000 нм; - вертикальний дозвіл 1-2 нм. Розроблена функція неруйнівної нанотомографії немає закордонних аналогів. Вартість сканованого зондового мікроскопу, на базі якого реалізовано функцію нанотомографії в 5-7 разів нижче закордонних аналогічних комплексів. Комплекс не поступається по основним парметрам закордонним аналогам скануючих зондових мікроскопів в режимі руйнівної нанотомографії. Автоматизований комплекс екологічно безпечний.

Очікуваний результат інвестицій: Автоматизованний комплекс "Микротомограф" дозволяє проводити оцінки неоднорідності поверхневих структур (наявність різнорідних по модулю пружностей фаз матеріалів, дефектів у вигляді нанопор, підповерхневих полостей та тріщин).

Очікуваний взнос інвестора: 20-25 тис.дол.США

Орієнтовна вартість роробки і затрат на впровадження (у.о.): 20-25 тысюдолл.

Країна
Беларусь

Для отримання додаткової інформації звертайтесь:
E-mail: gal@uintei.kiev.ua